Издан сборник научно-исследовательских работ
Издан сборник научно-исследовательских работ студентов-победителей Конкурса НИРС 2013–2014.
Вышел четвертый номер журнала «Вестник компьютерных и информационных технологий».
В журнале «Вестник компьютерных и информационных технологий» опубликована статья Жаднова В.В., Карапузова М.А., Кулыгина В.Н., Полесского С.Н. «Сравнение локальных вычислительных сетей по критерию требований к комплектам запасных частей».
Вышел первый номер журнала «Надежность».
В журнале «Надежность» опубликована статья Жаднова В.В. , Артюховой М.А. «Прогнозирование показателей надежности бортовой аппаратуры космических аппаратов при воздействии ионизирующих излучений низкой интенсивности».
Издан сборник материалов.
Издан сборник материалов Научно-технической конференции студентов, аспирантов и молодых специалистов НИУ ВШЭ им. Е.В. Арменского.
Издан сборник трудов.
Издан сборник трудов VIII Международной научно-практической конференции учащихся и студентов.
Издана монография.
Издана монография. "Жаднов, В.В. Прогнозирование надежности электронных средств с механическими элементами: научное издание. / В.В. Жаднов. - Екатеринбург: Изд-во ООО «Форт Диалог-Исеть», 2014. - 172 с."
Вышел четвертый номер журнала «Информационные технологии в проектировании и производстве».
В журнале «Информационные технологии в проектировании и производстве» опубликована статья Жаднова В.В. , Лушпы И.Л. «Прогнозирование показателей безотказности механических элементов электронных средств при проектировании».
Вышел двенадцатый номер журнала «T•Comm».
В журнале «T•Comm» опубликована статья Карапузова М.А., Полесского С.Н., Жаднова В.В. «Влияние внешних воздействующих факторов на долговечность СВЧ-устройств».
Вышел четвертый номер журнала «Технологии электромагнитной совместимости».
В журнале «Технологии электромагнитной совместимости» опубликована статья Иванова И.А., Полесского С.Н., Тихонова А.Н., Увайсова С.У. «Чувствительность цифровых устройств к электростатическому разряду при оценке значимости диагностируемых электрорадиоэлементов».
Издан Официальный бюллетень.
Издан Официальный бюллетень Федеральной службы по интеллектуальной собственности (РОСПАТЕНТ) "Программы для ЭВМ. Базы данных. Топологии интегральных микросхем.