Вышел второй номер журнала «Технологии электромагнитной совместимости».

В журнале «Технологии электромагнитной совместимости» опубликована статья Абрамешина А.Е., Жаднова В.В.  «Моделирование интенсивности отказов интегральных схем бортовой космической аппаратуры из-за воздействия электростатических разрядов».

Показатели безотказности бортовой космической аппаратуры в значительной степени зависят от характеристик надежности интегральных схем. Одной из возможных причин отказов интегральных схем является воздействие катастрофических электрических перегрузок вследствие электростатических разрядов. В статье рассматривается метод формирования математической модели интенсивности отказов интегральных схем и возможность его применения для интегральных схем аппаратуры космических аппаратов, эксплуатируемых на геостационарных или высокоэллиптических орбитах.