Мы используем файлы cookies для улучшения работы сайта НИУ ВШЭ и большего удобства его использования. Более подробную информацию об использовании файлов cookies можно найти здесь, наши правила обработки персональных данных – здесь. Продолжая пользоваться сайтом, вы подтверждаете, что были проинформированы об использовании файлов cookies сайтом НИУ ВШЭ и согласны с нашими правилами обработки персональных данных. Вы можете отключить файлы cookies в настройках Вашего браузера.

  • A
  • A
  • A
  • АБВ
  • АБВ
  • АБВ
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта

Вышел четвертый номер журнала «Технологии электромагнитной совместимости».

В журнале «Технологии электромагнитной совместимости» опубликована статья Иванова И.А., Полесского С.Н., Тихонова А.Н., Увайсова С.У. «Чувствительность цифровых устройств к электростатическому разряду при оценке значимости диагностируемых электрорадиоэлементов».

Обеспечение высокой надежности цифровых устройств с учетом жестких требований к электрическим перегрузкам требует использования специальной электронной компонентной базы и методов проектирования, соответствующих конечным условиям эксплуатации устройства. Статья посвящена актуальному вопросу разработки методики обеспечения контролепригодности электронных средств с учетом воздействия электростатистического разряда, подтверждает необходимость учета воздействия и содержит пример расчета. Показаны основные этапы расчета, вклад восприимчивости к электростатическому разряду в показателях надежности и контролепригодности.