Исследование энергетической релаксации в неупорядоченных металлических плёнкахINVESTIGATION OF ENERGY RELAXATIONIN DISORDERED METAL FILMS
Соискатель:
Руководитель:
Члены комитета:
Васенко Андрей Сергеевич («Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», PhD, председатель комитета), Шаненко Аркадий Аркадиевич (Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», к. ф.-м. н., член комитета), Каган Максим Юрьевич («Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», д. ф.-м. н., член комитета), Овсянников Геннадий Александрович (Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А.Котельникова РАН, д. ф.-м. н., член комитета), Скворцов Михаил Андреевич (Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт теоретической физики им. Л.Д.Ландау Российской академии наук, д.ф.-м. н., член комитета)
Диссертация принята к предварительному рассмотрению:
11/26/2024
Диссертация принята к защите:
12/24/2024
Дисс. совет:
Совет по инженерным наукам и прикладной математике
Диссертационное исследование посвящено экспериментальному изучению механизмов неупругой релаксации в плёнках TiN, NbN и Nb, определению доминирующих механизмов релаксации, температурных зависимостей этих механизмов, влияния магнитного и немагнитного беспорядков для повышения показателей качества сверхпроводниковых однофотонных детекторов. Экспериментальной основой исследования является метод магнитосопротивления тонких плёнок. Были получены зависимости различных времен релаксации в этих плёнках при низких температурах от условий их осаждения и наличия защитного слоя.
Диссертация [*.pdf, 17.94 Мб] (дата размещения 12/25/2024)
Резюме [*.pdf, 293.12 Кб] (дата размещения 12/25/2024)
Summary [*.pdf, 304.16 Кб] (дата размещения 12/25/2024)
Публикации, в которых излагаются основные результаты диссертации
Evidence of the disorder-independent electron-phonon scattering time in thin NbN films (смотреть на сайте журнала)
Отзывы
Отзыв научного руководителя
- Отзыв Гольцмана Г.Н. (дата размещения 11/28/2024)