• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Бакалавриат 2022/2023

Научно-исследовательский семинар: рентгеновский и электронно-микроскопический практикумы

Статус: Курс по выбору (Физика)
Направление: 03.03.02. Физика
Где читается: Факультет физики
Когда читается: 3-й курс, 2 модуль
Формат изучения: без онлайн-курса
Охват аудитории: для своего кампуса
Язык: русский
Кредиты: 3
Контактные часы: 36

Программа дисциплины

Аннотация

Целями освоения дисциплины являются: • практическое ознакомление с аппаратами, используемыми для ренгеноструктурного анализа, просвечивающей и сканирующей микроскопии; • освоение базовых методик определения структуры материала, фазового состава многофазного образца, работы с монокристаллами (определение монокристалличности, ориентации, наличия двойников); • знакомство со структурными базами данных и программами, используемыми в структурном анализе; • ознакомление с основными методами подготовки образцов для ЭМ-исследований, а также определения элементного состава материала.
Цель освоения дисциплины

Цель освоения дисциплины

  • практическое ознакомление с аппаратами, используемыми для ренгеноструктурного анализа, просвечивающей и сканирующей микроскопии;
  • освоение базовых методик определения структуры материала, фазового состава многофазного образца, работы с монокристаллами (определение монокристалличности, ориентации, наличия двойников);
  • знакомство со структурными базами данных и программами, используемыми в структурном анализе;
  • ознакомление с основными методами подготовки образцов для ЭМ-исследований, а также определения элементного состава материала.
Планируемые результаты обучения

Планируемые результаты обучения

  • владеют указанными методами для решения практических задач
Содержание учебной дисциплины

Содержание учебной дисциплины

  • Фотометоды. Метод Лауэ, метод вращения (качания), метод Дебая.
  • Рентгеновская порошковая дифрактометрия
  • Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов.
  • Электронная просвечивающая и сканирующая микроскопия
Элементы контроля

Элементы контроля

  • неблокирующий Лабораторный практикум
  • неблокирующий Написание отчета
  • неблокирующий защита отчета по работе
Промежуточная аттестация

Промежуточная аттестация

  • 2022/2023 учебный год 2 модуль
    0.3 * Написание отчета + 0.4 * Лабораторный практикум + 0.3 * защита отчета по работе
Список литературы

Список литературы

Рекомендуемая основная литература

  • Als-Nielsen, J., & McMorrow, D. (2011). Elements of Modern X-ray Physics (Vol. 2nd ed). Hoboken: Wiley. Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsebk&AN=391348
  • Murphy, B. M., & Seeck, O. H. (2014). X-Ray Diffraction : Modern Experimental Techniques. Boca Raton, FL: Pan Stanford. Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsebk&AN=957532
  • Илюшин, А. С.  Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 1 : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 327 с. — (Авторский учебник). — ISBN 978-5-534-04316-7. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/438402 (дата обращения: 28.08.2023).
  • Илюшин, А. С.  Дифракционный структурный анализ в 2 ч. Часть 2 : учебное пособие для вузов / А. С. Илюшин, А. П. Орешко. — 2-е изд., испр. и доп. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 299 с. — (Авторский учебник). — ISBN 978-5-534-04324-2. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/438750 (дата обращения: 28.08.2023).
  • Суворов, Э. В.  Дифракционный структурный анализ : учебное пособие для среднего профессионального образования / Э. В. Суворов. — Москва : Издательство Юрайт, 2019. — 272 с. — (Профессиональное образование). — ISBN 978-5-534-11822-3. — Текст : электронный // Образовательная платформа Юрайт [сайт]. — URL: https://urait.ru/bcode/447623 (дата обращения: 28.08.2023).

Рекомендуемая дополнительная литература

  • Garmai, A. V., & Oskolok, K. V. (2018). Development of the Method of Calibration Equations for the X-Ray Fluorescence Analysis of Multicomponent Samples in the Presence of Undetectable Elements. Journal of Analytical Chemistry, 73(7), 631–640. https://doi.org/10.1134/S1061934818070055
  • X-ray Microcomputed Tomography (µCT) for Mineral Characterization: A Review of Data Analysis Methods. (2019). Retrieved from http://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&db=edsbas&AN=edsbas.91816402
  • Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия : учебник для вузов, Уманский, Я. С., 1982
  • Современная кристаллография. Т. 1: Симметрия кристаллов : Методы структурной кристаллографии, Вайнштейн, Б. К., 1979
  • Современная кристаллография. Т. 2: Структура кристаллов, Вайнштейн, Б. К., 1979
  • Современная кристаллография. Т. 3: Образование кристаллов, Чернов, А. А., 1980
  • Современная кристаллография. Т. 4: Физические свойства кристаллов, Шувалов, Л. А., 1981

Авторы

  • Рыбченко Оксана Геннадьевна