Бакалавриат
2024/2025
Научно-исследовательский семинар "Электронная спектроскопия и дифракция"
Статус:
Курс обязательный (Физика)
Направление:
03.03.02. Физика
Где читается:
Факультет физики
Когда читается:
3-й курс, 3, 4 модуль
Формат изучения:
без онлайн-курса
Охват аудитории:
для своего кампуса
Преподаватели:
Андрюшечкин Борис Владимирович
Язык:
русский
Кредиты:
4
Контактные часы:
40
Программа дисциплины
Аннотация
Основной целью семинара является ознакомление с базовыми методами зондовой микроскопии. Это сканирующая туннельная микроскопия/спектроскопия (СТМ/С), атомно-силовая микроскопия (АСМ), а также сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ). Каждый из методов имеет десятки модификаций и позволяет достаточно полно, вплоть до уровня отдельных молекул и атомов, изучать поверхность твердого тела, как проводящих, так и диэлектриков. Семинары проводятся, в основном, в виде обсуждения актуальных научных статей, написанных, как правило, на английском языке. Помимо ознакомления с предметом семинара целью также является обучение навыкам анализа оригинальной научной литературы. The main purpose of the seminar is to familiarize yourself with the basic methods of probe microscopy. These are scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/S), atomic force microscopy (AFM), as well as scanning near-field optical microscopy (SNOM). Each of the methods has dozens of modifications and allows us to study quite completely, up to the level of individual molecules and atoms, the surface of conductors and dielectrics. Seminars are held mainly in the form of a discussion of relevant scientific articles written, as a rule, in English. In addition to acquaintance with the subject of the seminar, the goal is also to teach skills in the analysis of original scientific literature.