• A
  • A
  • A
  • АБB
  • АБB
  • АБB
  • А
  • А
  • А
  • А
  • А
Обычная версия сайта
Аспирантура 2024/2025

Экспериментальные методы исследования структуры и свойств материалов

Статус: Курс по выбору
Когда читается: 1-й курс, 1 семестр
Охват аудитории: для своего кампуса
Преподаватели: Монахов Иван Сергеевич
Язык: русский

Программа дисциплины

Аннотация

Настоящая программа учебной дисциплины устанавливает требования к знаниям и умениям аспиранта по направлению подготовки 03.06.01 Физика и астрономия, образовательной программы «Физика конденсированного состояния». Задачами дисциплины является развитие у аспирантов: • навыков анализа большого объема информации в процессе самостоятельной работы со справочной литературой и Интернет-ресурсами; • навыков грамотной обработки и интерпретации экспериментальных результатов; • навыков решения реальных задач в области исследования структуры, состава и физических свойств материалов; • навыков обработки данных дифракционных и спектрометрических экспериментов. • навыков работы с программными пакетами для математических расчетов и анализа рентгенодифракционных экспериментов; • культуры постановки и решения исследовательских задач. Текущий контроль состоит из практических занятий, домашнего задания и экзамена.
Цель освоения дисциплины

Цель освоения дисциплины

  • Целями освоения дисциплины «Экспериментальные методы исследования структуры и свойств материалов» являются получение аспирантами систематизированного представления о современных методах исследования структуры, состава и физических свойств широкого спектра материалов различного функционального назначения, овладение навыками комплексного применения изучаемых методов для решения практических задач в профессиональной деятельности.
Планируемые результаты обучения

Планируемые результаты обучения

  • владеть навыками использования справочной литературы и интернет-источников при решении научных задач
  • владеть навыками обработки экспериментальных данных с помощью ПК
  • владеть навыками подготовки образцов для экспериментальных исследований
  • владеть терминологией и математическим аппаратом, применяемым для описания дифракции рентгеновских лучей и электронов
  • знать области применения, возможности и ограничения таких методов, как РФА, РФЭС, ОЭС, МРСА, ВИМС
  • знать основные положения и границы применимости кинематической и динамической теории рассеяния, физику дифракции рентгеновских лучей и электронов: свойства обратной решетки, уравнение Лауэ, построение Эвальда, формулу Вульфа-Брэгга
  • знать принцип работы и конструкцию аналитического оборудования, реализующего изучаемые методы
  • знать современные способы математического описания шероховатых поверхностей, особенности рассеяния рентгеновских лучей на шероховатой поверхности и структуре пленка-подложка, многослойной структуре
  • уметь анализировать результаты исследования элементного состава материалов, полученные различными методами
  • уметь применять комплекс методов исследования состава и структуры материалов при решении научных задач
  • уметь разрабатывать методики экспериментального исследования конкретных объектов
  • уметь создавать физические модели исследуемых объектов и структур
Содержание учебной дисциплины

Содержание учебной дисциплины

  • Тема 1. Методы и приборы для определения элементного состава материалов.
  • Тема 2 . Методы и приборы для изучения структуры материалов.
  • Тема 3. Методы и приборы для анализа геометрических параметров и размеров наночастиц.
  • Тема 4. Специальные методы исследования.
Элементы контроля

Элементы контроля

  • неблокирующий семинары
  • неблокирующий домашнее задание
  • неблокирующий экзамен
Промежуточная аттестация

Промежуточная аттестация

  • 2024/2025 1st semester
    0.3 * домашнее задание + 0.3 * семинары + 0.4 * экзамен
Список литературы

Список литературы

Рекомендуемая основная литература

  • Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие, Брандон, Д., 2004
  • Рентгенографический и электронно-оптический анализ : учеб. пособие для вузов, Горелик, С. С., 2002

Рекомендуемая дополнительная литература

  • Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов, Миронов, В. Л., 2005
  • Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий : методы и применение, , 2013

Авторы

  • Монахов Иван Сергеевич