Аспирантура
2024/2025
Экспериментальные методы исследования структуры и свойств материалов
Статус:
Курс по выбору
Кто читает:
Департамент электронной инженерии
Когда читается:
1-й курс, 1 семестр
Охват аудитории:
для своего кампуса
Преподаватели:
Монахов Иван Сергеевич
Язык:
русский
Программа дисциплины
Аннотация
Настоящая программа учебной дисциплины устанавливает требования к знаниям и умениям аспиранта по направлению подготовки 03.06.01 Физика и астрономия, образовательной программы «Физика конденсированного состояния». Задачами дисциплины является развитие у аспирантов: • навыков анализа большого объема информации в процессе самостоятельной работы со справочной литературой и Интернет-ресурсами; • навыков грамотной обработки и интерпретации экспериментальных результатов; • навыков решения реальных задач в области исследования структуры, состава и физических свойств материалов; • навыков обработки данных дифракционных и спектрометрических экспериментов. • навыков работы с программными пакетами для математических расчетов и анализа рентгенодифракционных экспериментов; • культуры постановки и решения исследовательских задач. Текущий контроль состоит из практических занятий, домашнего задания и экзамена.
Цель освоения дисциплины
- Целями освоения дисциплины «Экспериментальные методы исследования структуры и свойств материалов» являются получение аспирантами систематизированного представления о современных методах исследования структуры, состава и физических свойств широкого спектра материалов различного функционального назначения, овладение навыками комплексного применения изучаемых методов для решения практических задач в профессиональной деятельности.
Планируемые результаты обучения
- владеть навыками использования справочной литературы и интернет-источников при решении научных задач
- владеть навыками обработки экспериментальных данных с помощью ПК
- владеть навыками подготовки образцов для экспериментальных исследований
- владеть терминологией и математическим аппаратом, применяемым для описания дифракции рентгеновских лучей и электронов
- знать области применения, возможности и ограничения таких методов, как РФА, РФЭС, ОЭС, МРСА, ВИМС
- знать основные положения и границы применимости кинематической и динамической теории рассеяния, физику дифракции рентгеновских лучей и электронов: свойства обратной решетки, уравнение Лауэ, построение Эвальда, формулу Вульфа-Брэгга
- знать принцип работы и конструкцию аналитического оборудования, реализующего изучаемые методы
- знать современные способы математического описания шероховатых поверхностей, особенности рассеяния рентгеновских лучей на шероховатой поверхности и структуре пленка-подложка, многослойной структуре
- уметь анализировать результаты исследования элементного состава материалов, полученные различными методами
- уметь применять комплекс методов исследования состава и структуры материалов при решении научных задач
- уметь разрабатывать методики экспериментального исследования конкретных объектов
- уметь создавать физические модели исследуемых объектов и структур
Содержание учебной дисциплины
- Тема 1. Методы и приборы для определения элементного состава материалов.
- Тема 2 . Методы и приборы для изучения структуры материалов.
- Тема 3. Методы и приборы для анализа геометрических параметров и размеров наночастиц.
- Тема 4. Специальные методы исследования.
Промежуточная аттестация
- 2024/2025 1st semester0.3 * домашнее задание + 0.3 * семинары + 0.4 * экзамен
Список литературы
Рекомендуемая основная литература
- Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие, Брандон, Д., 2004
- Рентгенографический и электронно-оптический анализ : учеб. пособие для вузов, Горелик, С. С., 2002
Рекомендуемая дополнительная литература
- Основы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов, Миронов, В. Л., 2005
- Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий : методы и применение, , 2013